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颗粒碰撞噪声测试仪(PIND)
 

用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验.

1. 检测仪适用范围:用于检测集成电路、晶体管、电容器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。
2. 颗粒碰撞检测仪主要技术性能指标符合标准:GJB-548A微电子器件试验方法 方法2020,GJB-128A半导体分立器件试验方法 方法2052。
主要型号有:4511A
4511L 4511L-R
4511M 4511M-R
专用耗材:专用胶片 胶水

 

 

 
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